favicon3

Система анализа для электронных микроскопов QUANTAX EDS

Производитель:

Описание

QUANTAX EDS – СИСТЕМА ЭНЕРГОДИСПЕРСИОННОГО МИКРОАНАЛИЗА

Фото галерея

Технические характеристики

Адаптирована под все типы и марки электронных микроскопов.

Широкая линейка SDD-детекторов XFlash площадью 10, 30, 60 и 100 мм2.

Специальные модели SDD-детектора: XFlash 6T для просвечивающих микроскопов и плоский детектор XFlash 5060F, размещающийся непосредственно под электронным пучком.

Самая высокая на рынке скорость счета SDD-детектора: входная – более 1 500 000 имп/с, выход- ная – более 600 000 имп/с для быстрого и точного элементного анализа.

Лучшее энергетическое разрешение — 121 эВ на линии Mn Kα при скорости счета 100 000 имп/с.

Наименьшее расстояние образец — детектор для большего телесного угла благодаря технологии Slim-line.

Компактная и легкая конструкция SDD-детектора (масса менее 3,75 кг) снижает нагрузку на колонну микроскопа.

Высокоточное позиционирование SDD-детектора с регулируемым наклоном внутри камеры микроскопа благодаря полностью моторизованному приводу.

Возможность проводить расчет содержаний с помощью комбинации эталонного и безэталон- ного способа анализа.

Поделитесь ссылкой на эту страницу

Поделиться в vk
VK
Поделиться в facebook
Facebook
Поделиться в linkedin
LinkedIn
Поделиться в telegram
Telegram
favicon3

Похожее оборудование

QUANTAX MICRO-XRF – система микрорентгенофлуоресцентного анализа
Быстрое картирование и получение результатов одновременно по элементному составу с по- мощью EDS и кристалл…
Паттерн-генератор нового поколения XeDraw 2 позволяет обновить сканирующий электронный микроскоп или систем…
Обратная связь
Мы свяжемся с вами в течение 15 минут
Наш менеджер подготовит для Вас коммерческое предложение и сразу свяжется с Вами.