Настольный сканирующий электронный микроскоп (Настольный СЭМ) Phenom Pharos.
Phenom Pharos — сканирующий электронный микроскоп с источником полевой эмиссии с катодом Шоттки, детекторами SE, BSE и EDS микроанализом. Максимальное увеличение 1 000 000х; разрешение <3 нм; ускоряющее напряжение от 2 до 15 кВ. Данный настольный СЭМ является уникальной моделью, вобравшей в себя все плюсы источника с полевой эмиссией и простоты работы с настольными СЭМ Phenom. Время откачки составляет всего 25 секунд.
Оптическая камера: увеличение 20х-135х, цветная
Цифровой зум: до 12х
Сверхбыстрая загрузка образца: оптическое изображение через 5 секунд после загрузки, электронное изображение — через 30 секунд.
Катод c полевой эмиссией FEG
Ускоряющее напряжение: 5 кВ, 10 кВ, 15 кВ
Разрешение: <3 нм
Увеличение: 1 000 000x
Расширенный режим, позволяющий устанавливать ускоряющее напряжение в диапазоне от 2 кВ -15 кВ
Стандартный предметный столик: образцы диаметром до 25 мм и высотой до 30 мм.
Высокочувствительный сегментированный на четыре квадранта детектор обратно рассеянных электронов (композиционный и топографический режимы). Детектор вторичных электронов.
Энергодисперсионный микроанализатор (кремниевый дрейфовый детектор), термическое охлаждение без жидкого азота.
Программный интерфейс на базе специализированного По Phenom для управления микроскопом. Монитор 19″, поворотно-нажимная кнопка для управления.
Дополнительный монитор, клавиатура, мышь, для управления программным комплексом для микроанализа.
Формат изображения: JPEG, TIFF, BMP. Размер изображения: 456х456, 684х684, 1024х1024, 2048х2048.
Программный модуль Pro Sute, который позволяет использовать стандартные приложения: Automated Image Mapping -получение панорамных изображений.
Remote User Interface — получение удаленного доступа к микроскопу.
3D Roughness Reconstruction — получение поверхности в виде 3D изображения и измерение шероховатости.
Fibermetric — измерение микро и нано волокон.
PoroMetric — автоматизированное измерение размеров пор, от 100 нм до 0.1 мм.
ParticleMetric — измерение размеров и формы частиц.