В универсальной двухлучевой системе Scios 2 применяется аналитическая двулучевая технология сверхвысокого разрешения DualBeam™, обеспечивающая выдающиеся эксплуатационные характеристики при двухмерном и трёхмерном анализе широкого диапазона образцов, включая магнитные материалы. Разработанный для повышения производительности, точности сбора данных и простоты эксплуатации, микроскоп Scios 2 — это инновационный прибор, идеально подходящий, как для рутинной так и для углублённой исследовательской работы в научных лабораториях, госструктурах и корпоративных отделах НИОКР.
Высокоустойчивая автоэмиссионная пушка Шоттки
Срок службы источника 12 месяцев
Простые установка и обслуживание пушки — автоматический прогрев, автоматический запуск, отсутствие потребности в механической регулировке положения
Автоматизированные нагреваемые апертуры
Непрерывное регулирование тока пучка и оптимизированная апертура
Двухступенчатое обнаружение при сканировании
Линза с двойным объективом, сочетающая электромагнитные и электростатические линзы
Геометрия линзы объектива 60°
Подсказки для пользователя и предустановки
Ионная колонна Sidewinder
Жидкометаллический галлиевый источник ионов с высокой плотностью тока
Срок службы источника: гарантируется 1 300 часов/2 600 мкА
Ускоряющее напряжение: от 500 В до 30 кВ
Ток зонда: от 0,6 пА до 65 нA, 15 ступеней
Стандартное гашение пучка
Апертурная полоса с 15 положениями
Увеличение: 40×-1,28Mх в зависимости от светофильтра
Режим подавления смещения входит в стандартную комплектацию для непроводящих образцов
Формирование изображения в высоком вакууме, оптимальное рабочее расстояние
3,0 нм (статистика на основе свыше 50 кромок)
5,0 нм (статистика на основе свыше 1000 кромок)
Максимальная ширина горизонтального поля: 4,0 мм при рабочем расстоянии 7 мм (соответствует минимальному увеличению до 30x в квадрантном виде)
Особо широкая зона видимости (1х), достигаемая благодаря стандартному навигационному монтажу